使用Phillips PANalytical X'pert Pro衍射儀（工作波長為1.5405?）（CuKα陽）收集電弧熔化的拋光錠的X射線粉末衍射（XRD）數(shù)據(jù)，而顯微照片則通過掃描電子顯微鏡（SEM）獲得），使用Zeiss Ultra場發(fā)射顯微鏡，并使用牛津儀器X-Max EDX硅漂移檢測器進行附加元素檢測（EDX），以檢查元素的定性成分。

隨后通過軟磁合金在環(huán)境壓力和壓下感應熔化和熔融紡絲（每克1克）電弧熔化的鑄錠來生產(chǎn)色帶。氬射流（過壓為1 bar）用于排出石英小瓶中包含的熔融液體。使用的典型實驗參數(shù)和條件是：長度為60毫米，內徑為8毫米，口徑為0.2毫米的石英小瓶，起始鑄錠質量為1克，噴嘴與砂輪的垂直角度為20度，噴嘴與砂輪的間距為大約1 mm，輪直徑為90 mm，輪速度為50-210 m / s。使用上述一般條件，色帶的厚度約為20μm，總長度約為6米（單個離散色帶長度為10 cm），寬度約為1 mm。

使用導量子干涉儀磁力計（SQUID，MPMS XL5）在室溫下在±5 T的磁感應范圍內測量所產(chǎn)生碳帶的面內飽和磁化強度。將碳帶樣品安裝在長抗磁性上PE吸管。在二階導數(shù)響應的梯度點處收集數(shù)據(jù)，沒有自動跟蹤。與SQUID磁力分析法相比，B-H回路示蹤劑可以測量帶的矯頑力（<5 Am-1）特性，因此，Hc是由定制的BH-looper（在廷德爾國家研究所）測量的。